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PARAM 塑膠薄膜測厚儀 CHY-C2

PARAM 塑膠薄膜測厚儀 CHY-C2
PARAM 塑膠薄膜測厚儀 CHY-C2

產品簡介:

嚴格按照標准設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制

 

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產品詳細介紹

儀器
超音波膜厚
PARAM 塑膠薄膜測厚儀 CHY-C2




專業

CHY-C2採用接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規範性和準確性。

測試標準
嚴格按照標准設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制
測試過程中測量頭自動升降,有效避免了人為因素造成的系統誤差
支持自動和手動兩種測量模式,方便用戶自由選擇
實時顯示測量結果的最大值、最小值、平均值以及標準偏差等分析數據,方便用戶進行判斷
配置標準量塊用於系統標定,保證測試的精度和數據一致性
系統支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能,方便快捷地獲取測試結果
系統由微電腦控制,搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板,方便用戶進行試驗操作和數據查看
標準的RS232接口,便於系統的外部連接和數據傳輸
支持Lystem™實驗室數據共享系統,統一管理試驗結果和試驗報告

測試標準
該設備滿足多項國家和國際標準:ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

測試應用
基礎應用

薄膜薄片

適用於塑料薄膜、薄片的厚度測試 

紙張
適用於紙張、紙板的厚度測試 

箔片、矽片、金屬片
適用於箔片、矽片、金屬片的厚度測試 

紡織、無紡布材料
適用於紡織材料的厚度測試 
固體電絕緣體 適用於固體電絕緣體的厚度測試

擴展應用

量程擴展至5,10mm

適用於測試薄膜、片材的厚度 

測量頭為曲面
滿足特殊場合的厚度測試 


技術指標 
指標  
負荷量程
0~2 mm(常規) 
0~6 mm;12 mm(可選) 

分辨率
0.1 μm 

測量速度
10 次/min (可調) 

測試壓力
17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張) 

接觸面積
50 mm 2(薄膜);200 mm 2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標可定制 

電源
AC 220V 50Hz 

外形尺寸
300 mm(L)× 275 mm(W)× 300mm(H) 

淨重
33 kg


標準配置:
主機、微型打印機、標準量塊一件選購件:專業軟件、通信電纜、配重砝碼盤、配重砝碼



 

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