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XTU系列測厚儀雖然結構緊湊，但是都有大容量的開槽設計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。
搭配微聚焦加強型X射線發生器和先進的光路轉換聚焦系統，以及高敏變焦測距裝置，可測試極微小和異形樣品。
檢測各種金屬及非金屬鍍層 · 0.005um檢出限 · 實際最小測量面積0.002mm² · 凹槽深度測量範圍可達0mm至30mm。
外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都可輕鬆操作。
應用領域
手錶、精密儀錶製造行業 ·電鍍液的金屬陽離子檢測 ·釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB ·衛浴產品裝飾把手上Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)·線路板、引線框架以及電子元器件接外掛程式檢測·汽車、五金、電子產品等其他緊固件的表面處理檢測·鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
性能優勢：
·下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
·變焦裝置演算法：可對各種異形凹槽進行檢測，凹槽深度可達0-30mm。
·高精密微型移動滑軌：快速精準定位樣品。
·微焦X射線裝置：檢測面積可小於0.002mm²的樣品，可測試各微小的部件。
·高效率正比接收器：即使測試0.01mm²以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
·先進EFP演算法軟體：多層多元素，包括有同種元素在不同塗鍍層的檢測，都可快，準，穩的做出資料分析。
技術參數：
元素分析範圍：氯（Cl）~鈾(U)
厚度分析範圍：各種元素及有機物
一次性同時分析：23層鍍層，24種元素
厚度最低檢出限：0.005um
最小測量面積：0.002mm²（多種準直器可選
對焦距離：0-90mm（測試凹槽，可變焦）
樣品腔尺寸：500mm×360mm×215mm
C型設計，允許測試超出樣品腔板裝物體
儀器尺寸：550mm×480mm×470mm
儀器重量：45kg
儀器配置：
微焦X射線發生器
光路轉換聚焦系統
高敏變焦測距裝置
高效率正比接收器
先進的信號放大器
高精度微型移動滑軌
標準片Ni/Fe 5um
標準片Au/Ni/Cu 0.1um/2um
選配附件：
電鍍液測試附件:
整套含兩個測量杯和一卷測試膜。可用於多品牌X-RAY測厚儀上使用，高純元素本底，提高測量精度和檢出限。
電鍍液測試樣品杯，嚴格控制了容量和溢出物的處理，用來測試藥水溶液中金屬離子的濃度,使用方便簡捷，無污染。
配件箱：
其中包括儀器相關配線，密碼，十二元素片，Ni/Fe 5um，Au/Ni/Cu 0.1um/2um網圈等！
測厚儀標準片:
校正片,又稱標準箔,膜厚片,通用於所有X射線鍍層測厚儀(Elite、Fischer、
Oxford（CMI）Thermo、Veeco、Micro Pioneer 、天瑞、華唯計量等)，本公司標準片規格
齊全，可送檢協力廠商出具CNAS證書，為儀器精準測試保駕護航，歡迎來電諮詢。
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